服務熱線安徽晶凱電子材料有限公司向我公司定購了在線納米級光學幹涉測厚儀
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發表時間：2021-03-03 14:01:35
2O2O17月04日江苏晶凱電子产品有限单位英文单位向我单位定購了在線納米級光學幹涉測厚儀！
D-2000型在線納米級光學膜厚儀回收利用光譜相幹測量學，用於測量半導體製造過程中的bopp膜尺寸，和安裝在半導體製造設備上的APC和bopp膜的質量控製，能夠測量單層/多層/塗布層在透光的基板上的尺寸，精準度可達納米級。
PSD-2000型在線納米級光學膜厚儀，其体系化元器件包括起源于於美國Ocean Optics比较有限企业，其徵型光譜儀體積小巧玲珑，可對全譜進行怏速数据采集，產品應用廣泛，要用於生化模式、光電、航空公司航空、環境保護、稳定檢測、農業等行業，可進行 Low-E 窗户玻璃纸鍍膜檢測，ITO 窗户玻璃纸鍍膜檢測，PET 塗布在線膜厚檢測，金屬表面上塗層檢測，半導體，LCD 膜厚檢測等。
PSD-2000型技術參數：
型號 PSD-2000
可測膜厚範圍 15 nm - 100 um 2nm - 200 um 200nm-3000um
測量可重複性 0.02 μm
測量準確 ±1%
线光源 鎢鹵素燈
測量波長 380 - 1050 nm 250 - 1050 nm 900 - 1200 nm
光点宽度 約φ1 mm
本职工作距離 10 mm
可測層數 最长10層
分析一下 FFT 剖析，擬合剖析
測量時間 19 ms/點
内部控製职能 Ethernet
音频接口 USB 2.0（主單元與電腦模块）；RS-232C（灯光與電腦模块）
電源 AC100 V — 240 V, 50 Hz/60 Hz
显卡功耗 約330W（2通道）~450W（15通道）
